品牌：

奥林巴斯

测量范围：

XT H 225 X射线和CT检测系统，可供工业应用工业零部件内外全检外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供强大的X射线源，超大的检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。XT H 系统可采用225kV电源，可选用旋转目标，适合于各种应用，包括小铸件检测、塑料件及材料研究。优点可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析快速数据采集和高质量图像可利用交互式操纵杆导航功能进行快速操作高分辨率数字成像和处理嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志可与行业标准后处理应用紧密集成低成本维护开管技术五轴完全可编程操纵器精选高分辨率数字探测器双显示，用于组合测量和实时分析直观的操纵杆导航可指导生成实时X射线图像测量体积 25X60cm安全装置，可作为设计标准结构紧凑设计，轻质设施安装符合人体工学的样品装载应用评估和测量精密塑料件和小铸件、复杂机构、内部零件、部件与CAD比较等故障检测和失效分析装配问题的故障诊断排除先进材料研究和生物结构的分析模型的数字化归档主要特征概述X射线源可使用25kV至最大225 kV电压，XT H 225系统可用于一般用途，例如塑料、PCB、轻合金、小组件和有机样本或生物样本，也可用于特殊用途，例如重型铸件、焊接件和高密度合金。目标微焦斑可产生非常高的分辨率，并建议将其作为标准目标。棒阳极是中空样品单层壁检测的理想选择，例如管焊接。旋转目标源带有旋转目标的X射线源可将X射线通量提高5倍，使客户能获得更快的CT数据采集或在相同的时间跨度内获得更高的CT数据精度。五轴样品操纵器XT H 225系统有三个线性轴和两个旋转轴，可从任意角度观察样品。10kg操纵器可夹住大多数样品重量，以最高精度进行操纵。操纵器通常用变速操纵杆进行控制。操纵器也可通过安装在机架上的工业PC机采用编程的方式进行控制。X射线平板探测器可广泛选择各种平板，使其更好地匹配物体尺寸和X射线能量，这提供了样品尺寸、视场和放大倍数要求的最佳选择。高放大倍数当样品向X射线源移动时，几何放大倍数将连续增加，从大约1X（紧挨着增强器窗口）增大到160X（碰触到X射线源）。图像处理一般NDT应用通常需要一些标准功能，例如对比度加强，图像集成和背景减除。对于更加重要的分析，需要使用一些特殊功能，例如自动芯片粘接空洞和引线弯曲计算、图形显示和色彩增强。可靠性连续泵浦全金属X射线管消除了密封玻璃管故障成本高和更换时间长等问题。客户维护成本低，通常只需更换灯丝，只需花费15分钟的更换时间。系统技术指标5μm 焦斑反射目标X射线源，25～225 kV，0～2000μA（非连续）60或225W.10kg容量五轴完全可编程操纵器。最大扫描范围250 x 330mm.最大几何放大倍数：160x.最大系统放大倍数：400x.特征识别分辨率：最低1μm.外机柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H.全套系统控制和图像处理软件。